We See Deeper

Enable Clarity

(주)유니테라사이언스는 THz 기반 딥사이언스 기술을 실제 제조 라인에 연결해

수율·품질·비용을 근본적으로 개선하는 새로운 검사 표준을 제안합니다

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We See Deeper

Enable Clarity

(주)유니테라사이언스는 THz 기반 딥사이언스 기술을
실제 제조 라인에 연결해 수율·품질·비용을
근본적으로 개선하는 새로운 검사 표준을 제안합니다

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유니테라가 만드는 
THz 검사 기술의 표준

유니테라는 THz 파의 물리적 특성을 기반으로 
공정 단계별 결함을 정밀하게 감지하는 
차세대 검사 솔루션을 개발하고 있습니다.

높은 정확도

THz 파의 투과·직진 특성으로 미세 결함과
불균일 패턴을 선명하게 구분해
OLED 제조 공정에 필요한
정밀한 불량 진단 품질을 제공합니다.

빠른 속도

제조 라인 속도에 맞춘 실시간 대면적 스캔 기술로 공정 중간 단계에서도 끊김 없는 검사 효율을 실현합니다.

저비용 구조

대면적 CMOS 기반 구조를 중심으로 장비 비용을 최소화해 고가 검사 장비 대비 합리적인 도입·운영 환경을 제공합니다.

유니테라가 만드는 THz 검사 기술의 표준

유니테라는 THz 파의 물리적 특성을 기반으로 공정 단계별 결함을

정밀하게 감지하는 차세대 검사 솔루션을 개발하고 있습니다.



높은 정확도

THz 파의 투과·직진 특성으로 미세 결함과
불균일 패턴을 선명하게 구분해
OLED 제조 공정에 필요한
정밀한 불량 진단 품질을 제공합니다.




빠른 속도

제조 라인 속도에 맞춘 실시간 대면적
스캔 기술로 공정 중간 단계에서도
끊김 없는 검사 효율을 실현합니다.




저비용 구조

대면적 CMOS 기반 구조를 중심으로
장비 비용을 최소화해 고가 검사 장비 대비
합리적인 도입·운영 환경을 제공합니다.


(주)유니테라 사이언스의

THz 검사 기술 핵심

THz Precision Inspection

THz 기반 비접촉 · 비파괴 정밀 검사

THz 파의 직진성·투과·저에너지 특성을 활용해

OLED 유기물 손상 없이 공정 단계에서 발생하는 미세 결함, 불균일 패턴, 적층 문제를 정밀하게 분석합니다.

기존 검사 방식으로는 식별하기 어려운 구조적 이슈까지 선명하게 포착해 검사 품질을 높입니다.

Real-Time Large-Area Scanning

대면적 실시간 스캔 기술

대면적 CMOS 기반의 고속 스캔 기술로 실제 
제조 라인 속도인 1m/s에 대응하며 패널 전체를 실시간으로 검사해 결함 발생 시 즉시 확인할 수 있습니다.

중간 공정에서도 활용 가능한 In-situ 검사 체계를 통해

생산 효율과 수율을 동시에 향상시킵니다.

Embedded Line-Ready Architecture 

현장 통합형 Embedded 검사 구조 

기존 제조라인에 자연스럽게 통합되는

THz 광학·센서 구조를 적용해 설비 변경 부담을 최소화하면서 고정확도·고속 검사 환경을 구현합니다.

현장 적용성을 고려한 설계로 초기 도입 난도를 낮추고,

안정적인 운영을 가능하게 합니다.

(주)유니테라 사이언스의

THz 검사 기술 핵심

THz Precision Inspection

THz 기반 비접촉 · 비파괴 정밀 검사

THz 파의 직진성·투과·저에너지 특성을 활용해

OLED 유기물 손상 없이 공정 단계에서 발생하는 미세 결함,

불균일 패턴, 적층 문제를 정밀하게 분석합니다.


기존 검사 방식으로는 식별하기 어려운 구조적 이슈까지

선명하게 포착해 검사 품질을 높입니다.


SEE BEYOND THE VISIBLE

INNOVATE FUTURE OF INSPECTION

ROADMAP

THz 영상 시스템의 성능과 적용성을 
지속적으로 확장하며, 차세대 OLED 검사 기술의 미래를 그립니다

2024 – 2025 (1단계)


  • THz 카메라 1차 시제품 개발
  • FET 기반 대면적 센서 패키징
  • 기본 광학계 구성 및 SW 적용 검증

2025 – 2026 (2단계)


  • 첨단노드 고집적 THz 시스템 제작
  • 실시간 영상 SW 고도화
  • 중간 공정 in-situ 실증용 MVP 개발

2027 – 2029 (3단계)


  • THz 영상 시스템의 최종 완성도 확보
  • 대면적 고해상도 검사 시스템 확립
  • 차세대 OLED대응 기술 완성

유니테라 OLED 제조 공정 적용 사례

THz 기반 인라인 검사로
OLED 제조의

새로운 표준을 만듭니다

Real-Time Large-Area Scanning

대면적 실시간 스캔 기술

대면적 CMOS 기반의 고속 스캔 기술로

실제 제조 라인 속도인 1m/s에 대응하며 패널 전체를 실시간으로

검사해 결함 발생 시 즉시 확인할 수 있습니다.


중간 공정에서도 활용 가능한 In-situ 검사 체계를 통해

생산 효율과 수율을 동시에 향상시킵니다.


Embedded Line-Ready Architecture

현장 통합형 Embedded 검사 구조

기존 제조라인에 자연스럽게 통합되는

THz 광학·센서 구조를 적용해 설비 변경 부담을 최소화하면서

고정확도·고속 검사 환경을 구현합니다.


현장 적용성을 고려한 설계로 초기 도입 난도를 낮추고,

안정적인 운영을 가능하게 합니다.


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THz 영상 시스템의 성능과 적용성을 지속적으로 확장하며,

차세대 OLED 검사 기술의 미래를 그립니다

2024 – 2025 (1단계)


  • THz 카메라 1차 시제품 개발
  • FET 기반 대면적 센서 패키징
  • 기본 광학계 구성 및 SW 적용 검증

2025 – 2026 (2단계)


  • 첨단노드 고집적 THz 시스템 제작
  • 실시간 영상 SW 고도화
  • 중간 공정 in-situ 실증용 MVP 개발

2027 – 2029 (3단계)


  • THz 영상 시스템의 최종 완성도 확보
  • 대면적 고해상도 검사 시스템 확립
  • 차세대 OLED대응 기술 완성

유니테라 OLED 제조 공정 적용 사례

THz 기반 인라인 검사로
OLED 제조의

새로운 표준을 만듭니다

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